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FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列X射线荧光分析仪
各种应用的合适设备和XUL系列一样,FISCHERSCOPE®X射线XAN®仪器非常适合分析简单形状的样品。然而,XAN系列的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度,还可
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菲希尔XAN500型便携式X射线荧光镀层测厚仪
减少了校准仪器所需的时间和精力。 Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移动使用并且应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,它特别适用于镀层厚度的无损测量及材料分析
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XAN 500 手持式X射线荧光分析仪
无标准片测量大型镀层零件(例如机器部件和外壳)的测量电镀层的测试电镀液金属含量的分析不只是现场工作专家FISCHERSCOPE®X射线XAN®500是目前最通用的X射线荧光系统。作为一款手持式XRF
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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行
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EX-3000日本荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合产品名称:日本荧光X射线膜厚仪 EX-3000可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜
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菲希尔荧光光谱仪
菲希尔 X-RAY XAN® 150荧光光谱仪一般技g 使用的 能量散咽降 x-射光Vx用於y量十分薄的膜雍穸龋诤辖鹬y量不同元素的含量。 元素的 X Al (13) 至 U (92
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理学X射线荧光测硫仪-micro Z Sulfur
较低的功率达到测硫0.3ppm的检测下限,测氯0.22ppm的检测下限。 Wavelength dispersive X-ray fluorescence sulfur (S
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测厚计 高精度橡胶测厚计
测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数:测程:0-10mm分度值:0.01mm工作台升降最大行程:40mm工作台外径: 70mm测头直径:6mm块规规格(厚度
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测厚计 高精度橡胶测厚计
量范围:0-10mm;分度值:0.01mm上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa所需质量:63±7g 上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa 量范围
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